T.  Scheuermann, Pfundt, G., Eyerer, P., and Jähne, B., ?Oberflächenkonturvermessung mikroskopischer Objekte durch Projektion statistischer Rauschmuster?, in Proc. 17. DAGM-Symposium Mustererkennung, Bielefeld, 13.-15. September 1995, 1995, p. 319--326.