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1995
T. Scheuermann, Pfundt, G., Eyerer, P., and Jähne, B., “Oberflächenkonturvermessung mikroskopischer Objekte durch Projektion statistischer Rauschmuster”, in Proc. 17. DAGM-Symposium Mustererkennung, Bielefeld, 13.-15. September 1995, 1995, p. 319--326.